Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка
Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці
Ключові слова
енергетичний центр світлової плями
субпікселна точність
зсув
Анотація
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.
Як цитувати
[1]
«Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці», Вісник ВПІ, вип. 6, с. 8–10, Лис 2010, дата звернення: Лис 15, 2026. доступний у: https://vpi.sprava.net/index.php/visnyk/article/view/526
